Licenciado em Física Tecnológica pela Fac. de Ciên. da Univ. de Lisboa em 1988, MSc em Física pela Fac. de Ciên. da Univ. de Lisboa em 1993, na área de especialização de Física Atómica e Molecular, e Doutorado pela Technical University Delft com tese sobre aplicações de técnicas analíticas nucleares a estudos de dispersão atmosférica e modelação de processos de assimilação de elementos químicos pela biosfera, registada na Univ. Técnica de Lisboa na área de Física. Responsável pela instalação, em 2008, do primeiro sistema de PIXE de muito alta resolução (18 eV @ 1.480 keV, 24 eV @ 10.550 keV) com dispersão em energia fazendo uso de um espectrómetro de raios-X de microcalorímetro (XMS), é desde 2010 presidente da comissão internacional de aconselhamento da conferência internacional de PIXE. ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- Graduated in Technological Physics by the Fac. Sci. of the Univ. of Lisbon in1988, MSc in Physics by the Fac. Sci. of the Univ. of Lisbon in1993, in the field of specialization of Atomic and Molecular Physics, and Doctor by the Technical University Delft after defending a thesis about nuclear analytical techniques applications to studies of chemical elements atmospheric dispersion and modelling of their assimilation by the biosphere. Responsible for the installation, in 2008, of the first Energy Dispersion Spectrometer High Resolution PIXE system (18 eV @ 1.480 keV, 24 eV @ 10.550 keV) using an Microcalorimeter X-ray Spectrometer (XMS), is since 2010 chairman of the International Advisory Committee of the International Conference on PIXE.