Conferência De: scopus

TEM and XRD investigation of MnO$_{2}$ microstructure and its influence on ESR of Ta capacitors

Materials Science Forum

Dias D.; Monteiro R.; Lohwasser W. — 2006

Informações chave

Autores:

Dias D.; Monteiro R.; Carvalho P.A.; Ferro A.C. (Alberto Eduardo Morão Cabral Ferro); Lohwasser W.

Publicado em

01/01/2006

Detalhes da publicação

Autores da comunidade :

Título do contentor da publicação

Materials Science Forum

Primeira página ou número de artigo

269

Última página

273

Volume

514-516

Fascículo

PART 1

ISBN

9780878494026

DOI

10.4028/www.scientific.net/MSF.514-516.269

Domínio Científico (FOS)

materials-engineering - Engenharia dos Materiais

Idioma da publicação (código ISO)

eng - Inglês

Acesso à publicação:

Acesso apenas a metadados