Artigo De: scopus

High depth resolution Rutherford backscattering analysis of Si-Si<inf>0.78</inf>Ge<inf>0.22</inf>/(0 0 1)Si superlattices

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Barradas N.P.; Jeynes C.; Parker E.H.C. — 1998

Informações chave

Autores:

Barradas N.P. (Nuno Pessoa Barradas); Jeynes C.; Mironov O.A.; Phillips P.J.; Parker E.H.C.

Publicado em

01/01/1998

Detalhes da publicação

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Título do contentor da publicação

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

Primeira página ou número de artigo

239

Última página

243

Volume

139

Fascículo

1-4

DOI

10.1016/S0168-583X(97)00965-8

Domínio Científico (FOS)

physical-sciences - Física

Idioma da publicação (código ISO)

eng - Inglês

Acesso à publicação:

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