Artigo De: orcid

Test preparation and fault analysis using a bottom-up methodology

Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems

Gracio, J.A.; Bicudo, P.A.; Teixeira, J.P. — 1989

Informações chave

Autores:

Gracio, J.A.; Bicudo, P.A.; Rua, N.N.; Oliveira, A.M. (Arlindo Manuel Limede de Oliveira); Almeida, C.F.B.; Teixeira, J.P.

Publicado em

1989

Detalhes da publicação

Autores da comunidade :

Título do contentor da publicação

Proceedings - IEEE International Symposium on Circuits and Systems

Primeira página ou número de artigo

168

Última página

174

Volume

2

Domínio Científico (FOS)

computer-and-information-sciences - Ciências da Computação e da Informação

Idioma da publicação (código ISO)

eng - Inglês

Acesso à publicação:

Acesso apenas a metadados